極片電阻儀結(jié)合高精度壓力控制、厚度和電阻測(cè)試系統(tǒng)，采用雙平面可控壓圓盤電極電阻法測(cè)試極片的整體穿透內(nèi)阻，包含涂層電阻、涂層與集流體接觸電阻以及集流體電阻的總和，可用于極片配方開發(fā)和工藝穩(wěn)定性監(jiān)控。

　介紹：

　極片電阻儀結(jié)合高精度壓力控制、厚度和電阻測(cè)試系統(tǒng)，采用雙平面可控壓圓盤電極電阻法測(cè)試極片的整體穿透內(nèi)阻，包含涂層電阻、涂層與集流體接觸電阻以及集流體電阻的總和，可用于極片配方開發(fā)和工藝穩(wěn)定性監(jiān)控。

　應(yīng)用：

　極片電阻儀應(yīng)用于材料評(píng)估、工藝評(píng)估、電芯失效分析

　主要特點(diǎn)：

　1、創(chuàng)造性極片電阻測(cè)試新方法，評(píng)估極片導(dǎo)電網(wǎng)絡(luò)均勻性；

　2、全自動(dòng)測(cè)試軟件，參數(shù)自由設(shè)置，一鍵開啟；

　3、實(shí)時(shí)監(jiān)控并輸出壓力、壓強(qiáng)、環(huán)境溫度、環(huán)境濕度、厚度、電阻、電阻率、電導(dǎo)率、壓實(shí)密度等參數(shù)曲線，并自動(dòng)保存測(cè)試數(shù)據(jù)。

　4、配備經(jīng)第三方計(jì)量院校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)厚度塊和電阻塊。

    測(cè)試方法和原理

    測(cè)試方法:BER系列多功能極片電阻儀采用雙平面可控壓圓盤電極電阻法直接測(cè)量真實(shí)極片整體電阻率,即涂層電阻、 涂層與集流體接觸電阻、集流體電阻的總和。

    特點(diǎn):1.直接測(cè)量真實(shí)極片縱向穿透電阻,即涂層電阻、涂層與復(fù)集流體接觸電阻、集流體電阻的總和;

    2.分離電壓電流線,排除電感對(duì)電壓測(cè)量的影響,提高檢測(cè)精度;

    3.配備經(jīng)第三方計(jì)量院計(jì)量的標(biāo)準(zhǔn)電阻塊和厚度塊。

　參數(shù)